一、X射线小角散射。当X射线照射到试样上时，如果试样内部存在纳米尺寸的密度不均匀区，则会在入射束周围的小角度区域内出现散射X射线，这种现象称为X射线小角散射或小角X射线散射。
二、X射线层析摄像法特点：X射线层析摄像技术可对微结构（可细至纳米尺度）进行定量的无损检测，空间分辨尺度可达10纳米左右。
三、X射线折射分析法特点：本法对样品中局部性小体积范围内的X射线吸收和折射实现了一次性的同时检测，所以能够测出样品内不同部位的孔率和内表面的密度，从而获得孔率河内表面密度的空间分布图像。此外，如果预先假定了孔隙的形状（如球形），那么还可以计算出孔隙尺寸的空间分布状态。X射线折射分析法既可检测开孔，又可检测闭孔，并且可以在不对孔隙形状作任何假设的前提下直接测定多孔试样的内表面密度。
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