为了将平板数字成像应用到高能X射线成像无损检测,通过实验研究了平板探测器的噪声和动态范围。设计了基于平板探测器的高能X射线成像系统。通过实验研究了电子直线加速器对数字平板探测器图像采集的束流触发同步问题。
    随着微电子集成工艺的发展,基于非晶硅(a-Si)TFT技术的大面积平板探测器获得了发展,并应用到了X射线领域。根据X射线转换成电荷 的方式不同,可分为直接转换和非直接转换两种数字平板探测器。采用直接转换方式的平板探测器和使用非晶硒(a-Se)半导体材料,可直接将X射线光子转换成电荷,并通过高压电场收集电荷,具有非常好的固有清晰度。
    非直接转换的平板数字成像是通过两个 步骤来探测X射线的:首先使用闪烁材料(例如碘化铯)或荧光材料(例如硫氧化钆)来吸收X射线,并转换为光;然后通过非晶硅光电二极管阵列将光转换成电 荷。两种方式的平板探测器在X射线照射过程中,首先是电荷的不断积累,然后被非晶硅薄膜晶体管(TFT)集成电路读出,并完成模数转换,产生平板数字图像。