基于平板的高分辨率平板数字成像
产品简介：针对高速X射线动态检测和X射线拍片而设计的数字成像系统。在千兆网卡接口标准的基础上，可在用户工作台上进行实时显示成像，成像面积大、性能稳定，是各种钢铁、轻金属材料的零部件及焊缝进行无损检测的理想设备。
技术特点：数字平板探测器不仅将其所接收到的穿透被检测目标的X射线转换为可见光，而且把可见光数字化，在控制单元的远程控制下，通过千兆网卡传入计算机进行实时的图像显示、图像处理、存盘等工作。一次成像面积最大为250㎜×200㎜，成像图像尺寸最大为1920×1536像素。
技术指标：采集速度：1fps/s--30fps/s
像元面积：总面积 19.5(h)cm*24.4(v)cm
有效面积 19.3(h)cm*24.2(v)cm
像元矩阵：总数 1.536(h)*1.920(v)
有效 1.516(h)*1.900(v)
像元尺寸：127μm2
能量范围：普通 40-160kv；中能 40-225kv
空间分辨率：实时图像显示可达到20LP/mm，静态图像可达到35LP/mm
数据输出/系统接口：千兆网卡
应用范围：各种需进行无损检测的部件及设备，适用于电力、航空、机械制造等行业。现应用于丹东无损检测设备有限公司，用户使用情况良好。
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